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[ml] マイクロビームアナリシス技術部会 第24回研究会のご案内

対象：会員および一般

速報発信者；二宮 啓（山梨大学）

日本表面真空学会 会員の皆様

マイクロビームアナリシス(MBA)技術部会では、3月3日(火)午後に第24回研究会を開催いたします。
ご多忙のおりとは存じますが、ぜひご出席くださいますようご案内申し上げます。

なお日本表面真空学会やMBA技術部会に所属していなくても、学生さんの参加費は無料です(参加登録は必要)。
ぜひ参加いただけますようお声がけいただき参加登録をお願いいたします。

日　時　： 2026年3月3日(火) 14時～17時
開催場所： 大成大手町ビル18階 日本電子株式会社 東京事務所 18階会議室
開催形式： 対面およびzoomオンラインのハイブリッド方式

プログラム：
14:00-14:40　物質・材料研究機構　鈴木拓先生（招待講演）「低エネルギーイオンビームによる表面水素の分析」
14:40-15:20　法政大学　西村智朗先生（招待講演）「イオン散乱・注入シミュレーションプログラムの開発」
15:20-15:30　休憩
15:30-16:10　日本原子力研究開発機構　藤田奈津子先生（招待講演）「超小型加速器質量分析装置の開発の現状」
16:10-16:35　東レリサーチセンター　小北哲也先生（招待講演）「イオンビーム分析の産業応用動向と今後の展望」
16:35-17:00　日産化学　松尾美那先生（招待講演）「製品開発力を強化するTOF-SIMSによる局在解析技術」

参加申込： 日本表面真空学会の「申し込み受付中のイベント」Webページよりお申し込みください。
https://www.jvss.jp/ja/events/detail/01114.html

参加申込締切： 2月24日（火）

問い合わせ先 ：
孝橋照生（日立製作所）: teruo.kohashi.fc@hitachi.com
堤　建一（日本電子）: tsutsumi@jeol.co.jp
二宮　啓（山梨大学）: sninomiya@yamanashi.ac.jp

＜本メールは日本表面真空学会より会員の皆様宛に配信しております。＞