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[ml] 次世代真空エレクトロニクス技術部会（FVE部会）第4回定例研究会のご案内

対象：会員および一般

速報発信者；後藤康仁（京都大学、日本表面真空学会FVE部会長）

次世代真空エレクトロニクス技術部会（FVE部会）
第4回定例研究会
真空エレクトロニクスの基礎「電子源の輝度測定法の最近の進展」

電子源の輝度は、電子顕微鏡などの分析装置の空間分解能を決定する性能の1つであるため、半導体分野を始めとした応用分野では電子源の更なる高輝度化が求められています。一方で、電子源の輝度を評価する方法として電子顕微鏡を用いた測定、および電子軌道計算によって行われていますが、電子源の輝度の正確な測定、算出は極めて難しいと言われています。今回の研究会では、電子源の輝度を正確に測定する新たな手法についての挑戦的な研究を紹介いただきます。本研究会が高輝度電子源の開発および評価に向けた有益な議論の場となることを期待いたします。

開催日時：2025年11月18日（火）13:30～16:30
開催場所：三多摩労働会館  第2会議室 およびオンライン
　　　　（〒190-0012 東京都立川市曙町2丁目15）

講演プログラム：
13:30～13:35　開会の挨拶
　日本表面真空学会FVE部会 部会長　後藤 康仁（京都大学）
1．真空エレクトロニクスの基礎「電子源の輝度測定法の最近の進展」
13:35～14:35「透過電子顕微鏡エミッターの軸上輝度測定」
　山﨑　順（大阪大学）
14:35～15:35「電子顕微鏡における電界放出電子源の実効光源径評価手法」
　川本 絵里奈（日立製作所）
15:35～15:55　休　憩
2．会議報告
15:55～16:25　IVNC2025会議報告
　鶴田 諒平（筑波大学）
16:25～16:30　閉会の挨拶
　日本表面真空学会FVE部会 部会長　後藤 康仁（京都大学）
17:00～19:00　懇親会（有料）

参加費（資料代・消費税を含む）
　FVE部会員（法人部会員については定められた人数の範囲内）：無料
　日本表面真空学会個人正会員：18,000円
　日本表面真空学会法人正会員、維持会員、賛助会員に属する方：18,000円
　教育機関、公的機関に属する方：12,000円
　学生： 5,000円
　一般：23,000円

参加定員：対面 25名、オンライン 50名
申込締切：2025年11月4日（火）
申込方法：ホームページよりお申込みください。
　https://www.jvss.jp/ja/events/detail/01073.html

問合せ先：公益社団法人日本表面真空学会 事務局
　　　　　E-mail: office＠jvss.jp

＜本メールは日本表面真空学会より会員の皆様宛に配信しております。＞