日本表面真空学会 FVE部会

2025年11月18日（火）13:30～16:30（入室開始時間：現地、オンラインともに13:20～）

三多摩労働会館  第2会議室 およびオンライン
（〒190-0012 東京都立川市曙町2丁目15）

電子源の輝度は、電子顕微鏡などの分析装置の空間分解能を決定する性能の1つであるため、半導体分野を始めとした応用分野では電子源の更なる高輝度化が求められています。一方で、電子源の輝度を評価する方法として電子顕微鏡を用いた測定、および電子軌道計算によって行われていますが、電子源の輝度の正確な測定、算出は極めて難しいと言われています。今回の研究会では、電子源の輝度を正確に測定する新たな手法についての挑戦的な研究を紹介いただきます。本研究会が高輝度電子源の開発および評価に向けた有益な議論の場となることを期待いたします。

テーマ
真空エレクトロニクスの基礎「電子源の輝度測定法の最近の進展」

講演プログラム
13:30～13:35　開会の挨拶
　日本表面真空学会FVE部会 部会長　後藤 康仁（京都大学）

1．真空エレクトロニクスの基礎「電子源の輝度測定法の最近の進展」
13:35～14:35
「透過電子顕微鏡エミッターの軸上輝度測定」
　山﨑　順（大阪大学）

14:35～15:35
「電子顕微鏡における電界放出電子源の実効光源径評価手法（予定）」
　川本 絵里奈（日立製作所）

15:35～15:55　休　憩

2．会議報告
15:55～16:25　IVNC2025会議報告　鶴田 諒平（筑波大学）

16:25～16:30　閉会の挨拶
　日本表面真空学会FVE部会 部会長　後藤 康仁（京都大学）

懇親会
17:00～19:00　

対面 25名、オンライン 50名

FVE部会員（法人部会員については定められた人数の範囲内）　無料
日本表面真空学会個人正会員　18,000円
日本表面真空学会法人正会員、維持会員、賛助会員に属する方　18,000円
教育機関、公的機関に属する方　12,000円
学生 　 5,000円
一般　23,000円
（資料代・消費税を含む）

＊日本表面真空学会法人正会員、維持会員、賛助会員の企業名はこちらをご確認ください。

こちらの申込フォームからお申込みください。
※お申込み完了後、受付完了メールが自動返信されます。
　受付完了メールが届かない場合は、office@jvss.jp へご連絡ください。

※法人部会員（下記8社）に属する方も上記申込フォームからお申込みください。
　＜　＞内は規定人数です。
・株式会社アールデック＜2名＞
・株式会社エリオニクス＜2名＞
・キヤノンアネルバ株式会社＜2名＞
・デンカ株式会社＜6名＞
・株式会社東芝＜2名＞
・浜松ホトニクス株式会社＜6名＞
・株式会社日立製作所＜6名＞
・株式会社日立ハイテク＜6名＞

申込締切　2025年11月4日（火）

銀行振込
＊申込受付完了後、請求書をメール添付でお送りします。
（銀行振込のため領収書は発行いたしません。ご了承ください。）

＊「参加者の都合による取消し及び不参加」の場合、参加費の払い戻しはいたしません。ただし、参加者の変更は差し支えありません。

問合せ先
公益社団法人日本表面真空学会 事務局
E-mail: office@jvss.jp　　TEL: 03-3812-0266

本件担当
日本表面真空学会 FVE部会　松永 宗一郎（日立製作所）、永井 滋一（三重大学）