公益社団法人 日本表面真空学会

2018年6月26日(火)～6月28日(木)

東京理科大学　神楽坂キャンパス

                 1号館17階記念講堂
                 東京都新宿区神楽坂1-3

・JR総武線、地下鉄有楽町線、東西線、南北線飯田橋駅下車　徒歩3分

・大江戸線飯田橋駅下車　徒歩10分

　表面・界面分析技術はめざましく進歩し、学術研究はもとより、産業界における研究開発や品質評価などに盛んに利用されています。本講座は、表面・界面分析の初心者、若手研究者、技術者を対象として、表面・界面分析の基礎と応用を入門的かつ具体例を豊富に挙げて解説することを目的としています。また、各講演で演習問題の解説を行い、内容の理解を深めます。企画の詳細につきましては、ホームページをご覧下さい。表面科学基礎講座へ多数の方々の参加をお勧めいたします。

月日	時間	講義題目	講師	講義資料（抜粋）	講義資料
6月26日（火）	9：20～ 9：30	開会挨拶
	9：30～ 10:50	表面・界面分析概論	野副　尚一（ｼｴﾝﾀｵﾐｸﾛﾝ）
	11:00～ 12:20	真空技術基礎	大岩　烈（ｼｴﾝﾀｵﾐｸﾛﾝ）
	12:20～ 13:30	（昼食）
	13:30～ 15:00	Ｘ線光電子分光法（XPS）	中村　誠（富士通研）
	15:10～ 16:10	薄膜X線測定法（XRD/XRR）	稲葉　克彦（リガク）
	16:20～ 17:30	放射光表面構造解析	近藤　寛（慶応大）
6月27日（水）	9：20～ 11:00	SPMの基礎と応用	中嶋　健（東工大）
	11:10～ 12:10	測定データの取扱いの基礎	太田　英二（慶応大（名誉教授）)
	12:10～ 13:20	（昼食）
	13:20～ 14:30	二次イオン質量分析法（ｽﾀﾃｨｯｸSIMS）	中西　加奈 (東レリサーチセンター)
	14:40～ 16:10	走査電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナライザ（SEM/EMPA)	林　広司（島津）
	16:20～ 17:50	透過電子顕微鏡（TEM/STEM/EDS/EELS)	保田　英洋（大阪大）
6月28日（木）	9：20～ 10:50	表面における赤外分光法、ラマン分光法	石橋　孝章（筑波大）
	11:00～ 12:20	表面の特性基礎	木口　学（東工大）
	12:20～ 13:30	（昼食）
	13:30～ 15:00	イオンプローブ基礎	笹川　薫（コベルコ科研）
	15:10～ 16:20	界面分析としての電気化学測定基礎	増田　卓也（物材機構）
	16:30～ 17:30	DLTS（Deep Level Transient Spectroscopy)法を中心とした電気計測による界面評価	徳田　豊　（愛知工業大）
	17:30～ 17:40	修了証授与、閉会挨拶

詳細はこちら

100名（定員に達し次第〆切ります）

表面科学会正会員 ：30,000円
表面科学会維持会員：25,000円
表面科学会賛助会員：30,000円
表面科学会学生会員： 5,000円
協賛学協会会員 ：40,000円
学生（非会員） ：10,000円
その他 ：45,000円
 （テキスト代、消費税を含む）

※第７回もしくは第８回の『社会人のための表面科学ベーシック講座』受講者は割引制度を適用します。下記のように申込の備考欄に記入の上、表中の各金額から学生の場合2,000円、一般の場合6,000円を差し引いた金額をお振込みください。

申込みは終了しました。

（1）申し込みを受け付け次第、振込用紙をお送りします。  
　　　受講者一名につき必ず一枚の振込用紙をご使用下さい。
（2）振込用紙の半券をもって領収書に替えさせていただきます。
（3）勝手ながら受講料の払い戻しは行いません。
　　　ご都合の悪くなった場合には、代理の方の受講をお願いします。

日本物理学会、応用物理学会、日本トライボロジー学会、日本金属学会、電子情報通信学会、日本顕微鏡学会、電気化学会、表面技術協会、粉体工学会、日本材料学会、電気学会、日本材料科学会、日本機械学会、高分子学会、日本油化学会、日本分析化学会、軽金属学会、化学工学会、日本質量分析学会、粉体粉末冶金協会、日本分光学会、日本真空工業会、日本放射光学会

８月９日（木）に表面科学技術者資格の第16回認定試験が行われます。第65回表面科学基礎講座受講者は無料で受験できます。受験申込の詳細はhttps://www.jvss.jp/jpn/activities/02/detail.php?eid=00002をご覧下さい。