“界面の評価と制御”特集号によせて (image PDF 63K) 島岡五朗 Vol. 6, No. 4 (1985) p. 253
(総説) 界面の評価と制御 合志陽一 Vol. 6, No. 4 (1985) p. 254
(界面を出す) ミクロトーム法 酒井俊男 Vol. 6, No. 4 (1985) p. 259
(界面を出す) 研磨法や破断法により界面を出す 吉原一紘 Vol. 6, No. 4 (1985) p. 268
(界面を探る—光で見る—) 実験室におけるEXAFSの測定 岡本篤彦 Vol. 6, No. 4 (1985) p. 274
(界面を探る—光で見る—) PL，ラマン分光等によるAlGaAs-GaAsヘテロ界面の評価 河合弘治，金子邦雄 Vol. 6, No. 4 (1985) p. 280
(界面を探る—電子で見る—) 電子顕微鏡による界面のキャラクタリゼーション 板東義雄 Vol. 6, No. 4 (1985) p. 288
(界面を探る—電子で見る—) AES，SAM，EPMA，XPS，UPSの界面研究への応用 福田安生，土谷康夫 Vol. 6, No. 4 (1985) p. 295
(界面を探る—中性子で見る—) FAB-SIMS，LIMS 長井一敏 Vol. 6, No. 4 (1985) p. 303
(界面を探る—中性子で見る—) MDSによる界面の評価 西垣 敏 Vol. 6, No. 4 (1985) p. 310
(界面を探る—イオンで見る—) SIMS，GDS 大坪孝至 Vol. 6, No. 4 (1985) p. 315
(界面を探る—音で見る—) 超音波顕微鏡による材料の評価 石川 潔，神田 浩，片倉景義 Vol. 6, No. 4 (1985) p. 325
(界面の制御) 人工超格子 （半導体） 坂本統徳 Vol. 6, No. 4 (1985) p. 331
(界面の制御) 界面の評価と制御—セラミックス— 桑原 誠 Vol. 6, No. 4 (1985) p. 340
(界面の制御) 界面の評価と制御—半導体— 田口常正，平木昭夫 Vol. 6, No. 4 (1985) p. 347
(界面の制御) 材料の複合化—ポリマー— 西 敏夫 Vol. 6, No. 4 (1985) p. 356
(界面の制御) FRMにおける界面問題とその制御 塩田一路 Vol. 6, No. 4 (1985) p. 363
(界面の制御) 金属における界面制御—粒界偏析の制御による金属材料の性能向上— 木村 宏 Vol. 6, No. 4 (1985) p. 370
京都大学化学研究所における表面・界面研究 (image PDF 202K) 藤吉好則 Vol. 6, No. 4 (1985) p. 376
