■ 巻頭言
■ 特集：イオンビームアナリシスの最前線
■ 連載企画
■ 談話室
■ 先端追跡
■ FOCUS on e-JSSNT
■ 編集後記
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イオンビーム分析法の現状を俯瞰し，今後の展開を考えるベースになるようなものを，という思いで特集を企画しました。エネルギーはkeVからMeVまで，汎用的な手法から特殊な手法まで，広範囲にわたり執筆していただくことができました。それでも，核反応や高エネルギー重イオンを用いた分析などを含めることができておらず，次の機会に取り上げたいと思います。全体として難しい記事が多くなってしまい，編集担当として責任を感じております。最後になりましたが，お忙しいところ，ご執筆いただきました先生方に感謝申し上げます。 （笹川 薫）
表面分析に従事し始めた30年程前，超高真空技術の進歩に伴い，イオン・中性粒子ビームによる分析技術は最先端の表面分析手法となり，技術開発や分析原理の解明が盛んに行われていました。時代とともに技術的には成熟し，最先端の位置付けではなくなりましたが，未だその分析手法特有の情報が先端の研究に用いられています。今回の特集号では低・中・高エネルギー域のそれぞれから，わかりやすく解説していただきました。これを契機として，今後若手研究者によるさらなるアプリケーションの展開が促進されることを期待しています。 （三田村茂宏）
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