会誌「表面科学」

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 第28巻 第5号  2007年5月

Editor's Choice

周波数検出型ケルビンプローブ原子間力顕微鏡によるカーボンナノチューブFETの表面電位測定。

表面科学 第28巻 第5号 (2007) p. 253
Contents


■ 巻頭言

有機半導体による表面科学へのインパクト

関 一彦
Vol. 28, No. 5 (2007) p. 235


■ 特集:有機半導体デバイスと表面・界面:デバイス技術と物性評価法の進展

(総合報告)
化学ドーピングによる有機EL素子の低駆動電圧化

安達千波矢, 小山田崇人, 松島敏則
Vol. 28, No. 5 (2007) p. 236



(総合報告)
有機薄膜トランジスタにおける表面・界面の制御

時任静士, 熊木大介
Vol. 28, No. 5 (2007) p. 242



(研究紹介)
Backside SIMSによる有機EL素子界面の不純物拡散評価

宮本隆志・藤山紀之
Vol. 28, No. 5 (2007) p. 249



(研究紹介)
周波数変調型ケルビンプローブ原子間力顕微鏡による有機薄膜評価

山田啓文
Vol. 28, No. 5 (2007) p. 253



(研究紹介)
光電子収量分光による有機エレクトロニクス材料・界面の電子構造評価

石井久夫, 津波大介, 末永 保, 佐藤信之, 木村康男, 庭野道夫
Vol. 28, No. 5 (2007) p. 264


■ 研究紹介

赤外分光法で読み解く有機薄膜の分子配向

長谷川健
Vol. 28, No. 5 (2007) p. 271



自己組織化による高分子ナノ微粒子の作製

藪 浩, 田島孝訓, 樋口剛志, 下村政嗣
Vol. 28, No. 5 (2007) p. 277


■ 連載企画

(知っておきたい新計測法 C)
生体計測のための赤外吸収分光技術

木村康男, 宮本浩一郎, 庭野道夫
Vol. 28, No. 5 (2007) p. 283


■ 先端追跡

[R-367] 有機シラン単分子膜の質
谷井孝至
Vol. 28, No. 5 (2007) p. 287

[R-368] 分子集積のプログラミング
田中健太郎
Vol. 28, No. 5 (2007) p. 287


■ FOCUS on e-JSSNT
e-JSSNT最新論文 No. 45 

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