会誌「表面科学」

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 第27巻 第5号  2006年5月

Editor's Choice

時分割回折X線追跡法による一分子検出

表面科学 第27巻 第5号 (2006) p. 265
Contents


■ 巻頭言

ナノテクノロジーにウイングを広げた表面科学

尾嶋正治
Vol. 27, No. 5 (2006) p. 257


■ 特集:放射光表面科学部会特集

(研究紹介)
斜入射X線回折法による水面上J会合体単分子膜の構造解析とその励起子吸収帯のエネルギー準位の計算

加藤徳剛,湯浅一哉,上江洲由晃
Vol. 27, No. 5 (2006) p. 258



(研究紹介)
X線が可能にする機能性1分子の分子内構造変化計測

佐々木裕次
Vol. 27, No. 5 (2006) p. 265



(研究紹介)
X線磁気円二色性,磁気光学Kerr効果による磁性超薄膜のスピン再配列相転移

中川剛志,横山利彦
Vol. 27, No. 5 (2006) p. 272



(研究紹介)
放射光励起の高分解能角度分解光電子分光:遷移金属単結晶表面の電子構造の精密評価

島田賢也
Vol. 27, No. 5 (2006) p. 278



(研究紹介)
赤外放射光の利用研究と表面科学への展開

木村真一,櫻井陽子
Vol. 27, No. 5 (2006) p. 285



(研究紹介)
自己再生自動車触媒のXAFS,DANESによる構造研究

水木純一郎
Vol. 27, No. 5 (2006) p. 291



(研究紹介)
光電子回折によるシリコン表面に吸着したベンゼンおよびピラジンの構造解析

下村 勝,河野省三
Vol. 27, No. 5 (2006) p. 298


■ 先端追跡

[R-343] 京速計算機プロジェクト
赤木和人
Vol. 27, No. 5 (2006) p. 304

[R-344] DNAのナノ折り紙
朝倉清高
Vol. 27, No. 5 (2006) p. 304


■ FOCUS on e-JSSNT
e-JSSNT最新論文 No. 33 

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