会誌「表面科学」

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 第23巻 第6号  2002年6月

Editor's Choice

hexane多層膜のカーボンK吸収端NEXAFSスペクトル

表面科学 第23巻 第6号 (2002) p. 351
Contents


■ 巻頭言

XAFSの拡がり

岩澤康裕
Vol. 23, No. 6 (2002) p. 331


■ 特集:X線吸収微細構造(XAFS)による表面,界面の解析

(研究紹介)
偏光全反射蛍光XAFSを用いた金属−酸化物基板界面構造の研究

朝倉清高,岩澤康裕
Vol. 23, No. 6 (2002) p. 332



(研究紹介)
時間分解XAFSを用いた触媒調整過程の研究

紫藤貴文,山口有朋,鈴木あかね,稲田康宏,朝倉清高,野村昌治,岩澤康裕
Vol. 23, No. 6 (2002) p. 339



(研究紹介)
軟X線エネルギー分散型表面XAFS法による表面化学反応の時分割追跡

雨宮健太,近藤 寛,太田俊明
Vol. 23, No. 6 (2002) p. 345



(研究紹介)
XAFSによる自己組織化膜の研究

近藤 寛
Vol. 23, No. 6 (2002) p. 351



(研究紹介)
XAFSによる高分子材料表面の解析

岡島敏浩
Vol. 23, No. 6 (2002) p. 359



(研究紹介)
XAFS測定の半導体への応用

大渕博宣,田渕雅夫,竹田美和
Vol. 23, No. 6 (2002) p. 367



(研究紹介)
SCM-XAFS法による半導体表面顕微分光

石井真史
Vol. 23, No. 6 (2002) p. 374



(研究紹介)
透過電子エネルギー損失分光における内殻励起スペクトルを利用した軽元素材料の局所領域構造解析

武藤俊介,田辺哲朗
Vol. 23, No. 6 (2002) p. 381


■ ノート

無機化合物のGa+1次イオンTOF-SIMSフラグメント・パターン推定への同位体存在比導入の試み

李 展平,広川吉之助
Vol. 23, No. 6 (2002) p. 389


■ 先端追跡

[R-269] タングステンの仕事関数制御
安達 洋
Vol. 23, No. 6 (2002) p. 395

[R-270] 発光X線微細構造(EXEFS)
赤井俊雄
Vol. 23, No. 6 (2002) p. 395


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