[前号 (Vol. 21, No. 1)] [次号 (Vol. 21, No. 3)] [会誌 総目次]
新機能の宝庫・酸化物 鯉沼秀臣 Vol. 21, No. 2 (2000) p. 61
(解説) 理論から見た複酸化物表面の現状と今後 寺倉清之，方 忠 Vol. 21, No. 2 (2000) p. 62
金属酸化物超平坦表面のナノ構造評価と応用 吉本 護，大西 剛，高倉雅博，菱谷佳子，古澤光康，水野敬介，宮原崇文 Vol. 21, No. 2 (2000) p. 71
分子シミュレーションによる複酸化物の表面・界面 久保百司，高見誠一，宮本 明 Vol. 21, No. 2 (2000) p. 81
光電子分光で見た銅酸化物超伝導体(Nd, Ce)2CuO4の表面・界面 —銅酸化物表面/界面での酸化還元反応と酸素ノンストイキオメトリー— 山本秀樹，内藤方夫，佐藤寿志 Vol. 21, No. 2 (2000) p. 89
原子間力顕微鏡による銅酸化物超伝導体単結晶の表面観察 座間秀昭，田中延枝，森下忠隆 Vol. 21, No. 2 (2000) p. 97
Ni(111)面上に吸着した硫黄の拡散係数の測定 塚脇 聡，波多野雄治，橋爪健一，杉崎昌和 Vol. 21, No. 2 (2000) p. 102
InGaAs量子ドットのSPEED法による作製とその光学特性 間野高明，渡邉克之，塚本史郎，今中康貴，高増 正，藤岡 洋，木戸義勇，尾嶋正治，小口信行 Vol. 21, No. 2 (2000) p. 107
APFIMにおける試料冷却法 宝野和博 Vol. 21, No. 2 (2000) p. 114
第20回表面科学セミナー—表面分析による材料評価の実際— 吉原一紘 Vol. 21, No. 2 (2000) p. 118
[R-222] EPMAを用いた化学状態別分布の評価 橋本 哲 Vol. 21, No. 2 (2000) p. 119
[R-223] 原子レベルで達成された，STMチップを用いた表面のフォトンマッピング 笹原 亮 Vol. 21, No. 2 (2000) p. 119
