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講演大会特集号に寄せて (image PDF 53K) 太田英二 Vol. 20, No. 7 (1999) p. 451
(論文) エネルギー・角度同時検出の新型アナライザーを用いたオージェ電子回折測定 白木 将，石井秀司，尾張真則，二瓶好正 Vol. 20, No. 7 (1999) p. 452
(論文) La1.5Ba0.5SrCu2O6−dにおける炭酸基・硫酸基の表面吸着様式 御園康仁，宗像文男，秋宗淑雄，志智雄之 Vol. 20, No. 7 (1999) p. 458
(論文) スパッタ中の酸素分圧によるPbTiO3スパッタ薄膜の微細構造変化 市川陽子，足立秀明，和佐清孝 Vol. 20, No. 7 (1999) p. 464
(論文) Si(111) 7×7 DAS構造形成過程のSTMによるその場観察 島田 亙，栃原 浩 Vol. 20, No. 7 (1999) p. 470
(論文) 断面TEM法による(Nd, Ce)2CuO4超伝導体薄膜の成長機構と局所構造観察 浅香 透，安達 裕，鶴田忠正，高橋紘一郎，堤 貞夫，松井良夫 Vol. 20, No. 7 (1999) p. 477
(論文) アルキルアンモニウムハライド分子の吸着したSiO2およびH/Si基板のζ電位 菅野 勉，藤井正俊 Vol. 20, No. 7 (1999) p. 486
(ノート) NO2-NaCl反応における表面吸着水の影響：DRIRSによる検討 吉武英昭 Vol. 20, No. 7 (1999) p. 492
EMAS (Europian Microbeam Analysis Society) '99, 6th Europian Workshop on Modern Development and Applications in Microbeam Analysis (image PDF 92K) Kouichi TSUJI Vol. 20, No. 7 (1999) p. 495
