会誌「表面科学」

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 第18巻 第1号  1997年1月


■ 巻頭言

表面研究と装置開発 (image PDF 73K)
太田俊明
Vol. 18, No. 1 (1997) p. 1


■ 特集:X線吸収分光(XAFS)の表面への応用

(解説)
Surface-sensitive XAFS/DAFSによる半導体表面研究

大柳宏之,Douglas TWEET
Vol. 18, No. 1 (1997) p. 2



(解説)
軟X線吸収微細構造(XAFS)分光法による表面吸着分子の研究

横山利彦
Vol. 18, No. 1 (1997) p. 9



(解説)
表面XAFS研究への期待
—新しい放射光利用技術の活用—


野村昌治
Vol. 18, No. 1 (1997) p. 16



(解説)
高分散担持酸化物光触媒のXAFS

吉田郷弘
Vol. 18, No. 1 (1997) p. 21



(解説)
Laboratory XAFSでの電子材料および薄膜の分析

西萩一夫
Vol. 18, No. 1 (1997) p. 29



(解説)
半導体表面の軟X線定在波解析

杉山宗弘
Vol. 18, No. 1 (1997) p. 37


■ 論文

アルカリハライド結晶表面での水の吸着

三浦浩治,前田啓介,山田哲生
Vol. 18, No. 1 (1997) p. 44


■ 解説

EL薄膜の作製と特性評価

中西洋一郎
Vol. 18, No. 1 (1997) p. 48


■ 実験ノウハウ

近接場光学顕微鏡でどこまで高分解能像が得られるか? (2)

大津元一
Vol. 18, No. 1 (1997) p. 55


■ 先端追跡

[R-135] 二次元赤外分光法(2D-IR)
佐々木健
Vol. 18, No. 1 (1997) p. 58

[R-136] 軟X線発光分光法
生天目博文
Vol. 18, No. 1 (1997) p. 58


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