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[ml_394] 【第71回表面科学基礎講座～表面・界面分析の基礎と応用～オンラインセミナー】　のご案内

対象：会員および一般

速報発信者；野口秀典（物質・材料研究機構/基礎講座担当）

(公社)日本表面真空学会主催
【第71回表面科学基礎講座～表面・界面分析の基礎と応用～オンラインセミ
ナー】のご案内

※申込締切は7/26（月）です。

表面・界面分析技術はめざましく進歩し、学術研究はもとより、産業界における研究
開発や品質評価などに盛んに利用されています。本講座は、表面・界面分析の初心
者、若手研究者、技術者を対象として、表面・界面分析の基礎と応用を入門的かつ具
体例を豊富に挙げて解説することを目的としています。また、各講演では最近のホッ
トトピックスも盛り込み、興味と理解を深めて頂けるようになっております。表面科
学基礎講座へ多数の方々の参加をお勧めいたします。

新しく表面科学・表面分析を始める技術者や学生の皆さんの"新人研修"として、
あるいは技術者、研究者の皆さんが表面分析法の"基礎を見直す機会"としても、
ご活用下さい。

各講演の内容など企画の詳細につきましては、下アドレスのホームページを御覧くだ
さい。
https://jvss.jp/jpn/activities/04/detail.php?eid=00009

日時：2021年8月2日（月)～8月31日（火）（ビデオオンデマンド方式）
会場：Google Classroomを使用します。申し込みにあたり、Gmail account（無料）
が必要です。

申込締切、申込方法：2021/7/26までに、上記webサイトから

問い合わせ先：日本表面真空学会事務局：office@jvss.jp

講義内容と講師（予告なく変更となることがあります）
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表面・界面分析概論野副尚一（元産総研）
真空技術基礎谷本育律（高エネ研）
表面の特性基礎本間芳和（東京理科大）
X線光電子分光法（XPS）      中村誠（富士通研）
オージェ電子分光法（AES）    中村誠（富士通研）
放射光表面構造解析       近藤寛（慶応大）
SPMの基礎と応用            中嶋健（東工大）
走査電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナライザ（SEM/EPMA）
         林広司（島津）
透過電子顕微鏡（TEM/STEM/EDS/EELS）保田英洋（大阪大）
薄膜X線測定法（XRD/XRR）     稲葉克彦（リガク）
表面における赤外分光法、ラマン分光法石橋孝章（筑波大）
界面分析としての電気化学測定基礎野口秀典（物材機構）
イオン散乱       中嶋薫（京都大）
二次イオン質量分析法(スタティックSIMS)
中西加奈（東レリサーチセンター）
二次イオン質量分析法(ダイナミックSIMS)
   沼尾茂悟（東レリサーチセンター）
測定データの取扱いの基礎太田英二 (慶應大名誉教授)
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