日本表面真空学会関東支部 関東支部セミナー
本セミナーは、ナノ材料・デバイスの評価技術として重要な新しい顕微評価技術の展開と促進を図り、 これを通じて産業界に貢献することを目的として、2013年より開催されてきました。 機器メーカーと分析会社のご協力により、口頭発表やポスター展示を併設して、 各種材料・デバイスの顕微評価・解析の向上に役立つ最新技術やノウハウを紹介してきました。COVID-19の流行以降はオンライン開催も進め、毎回100名を超える参加者を集めています。 企業の方や研究者が面着することにより、活発な議論や意見交換が期待されるため、2024年度に引き続いて対面形式といたします。
参加登録：こちらから登録をお願いします。（締切7月11日(金)）
東京大学 小柴ホール（東大本郷キャンパス・理学部1号館内）
本郷三丁目駅（地下鉄丸の内線）徒歩8分
本郷三丁目駅（地下鉄大江戸線）徒歩6分
湯島駅又は根津駅（地下鉄千代田線）徒歩8分
東大前駅（地下鉄南北線）徒歩1分
春日駅（地下鉄三田線）徒歩10分
地図： http://www.u-tokyo.ac.jp/campusmap/cam01_00_25_j.html
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13:00
- 13:45 |
招待講演：高橋 嘉夫先生 (東京大学大学院理学系研究科) 「顕微XAFS法を用いた化学素過程解析による宇宙地球化学・環境化学研究」 宇宙・地球・環境でおきるあらゆるマクロ現象の理解や予測には、その原子・分子レベルの化学素過程の解明が必須である（＝分子地球化学）。しかし、宇宙地球化学・環境化学で扱う天然試料は、極めて不均質な物質であり、そこから元素サイクル・物質循環、、地球や生命の起源や進化、環境・資源・気候変動の問題などにおける化学素過程を明らかにするには、元素選択性が高く高感度なXAFSの適用が極めて有効である。ここにさらに顕微分析が加われば、現象の解明により重要なフェーズに特化した分析が可能になり、さらに問題の本質に迫ることが可能になる。ここでは、軟X線から硬X線の広いエネルギー範囲で、様々な元素を対象にした顕微XAFS分析を適用した例をご紹介すると共に、その宇宙地球化学・環境化学研究における重要性や今後の期待などを示した。 |
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13:45 - 13:55 |
(休憩) |
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13:55
- 14:05 |
企業ショートプレゼン： 日本カンタム・デザイン株式会社
「Nanosurf社DriveAFMが提供するカンチレバー光熱励振技術を用いた オフレゾナンス測定モード「WaveMode」の紹介」
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14:05
- 14:15 |
企業ショートプレゼン：ブルカージャパン株式会社
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14:15
- 14:25 |
企業ショートプレゼン：株式会社東京インスツルメンツ
「Simultaneous Chemical and Mechanical Imaging Using the Nanofinder Raman/Brillouin Microscope」 |
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14:25
- 14:35 |
企業ショートプレゼン：株式会社 トヤマ |
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14:35
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15:20 |
ポスターセッション・企業展示(※ショートプレゼン企業に加えて株式会社アールデック) |
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15:20
- 16:05 |
招待講演：小澤 健一先生 （高エネルギー加速器研究機構物質構造科学研究所） 「放射光を利用した顕微分光測定による材料研究」材料研究は，従来のモデル試料の測定から，材料が機能している環境での評価（ in situ/operando測定）へとシフトしてきました。この新しいアプローチにおい て，微小空間の物性を評価する顕微測定は非常に重要な役割を担っています。特 に光をプローブとした顕微測定では，シンクロトロン放射光の利用が測定効率を 飛躍的に向上させます。本講演では，光電子分光測定を中心に放射光顕微測定の 具体的な事例を紹介します。 |
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16:05 - 16:15 |
(休憩) |
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16:15
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16:25 |
技術紹介： 山下翔平先生 （高エネルギー加速器研究機構物質構造科学研究所）
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16:25
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16:35 |
技術紹介： 熊木文俊先生 （高エネルギー加速器研究機構物質構造科学研究所） |
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16:35
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17:20 |
ポスターセッション・企業展示(※ショートプレゼン企業に加えて株式会社アールデック)
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17:20
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17:30 |
閉会 |
豊島 遼：toyoshima -at- material.t.u-tokyo.ac.jp ("-at-"を@に修正してください)