日本表面科学会中部支部研究会
−走査プローブ顕微鏡の新展開−
日時：2011年11月25日（金曜日）
13：00-16：45
場所：静岡大学電子工学研究所
2階会議室
浜松市中区城北3-5-1
プログラム
13:00-13:05 支部長挨拶（日本表面科学会中部支部）
豊田工業大学 吉村 雅満
13:05-13:55 「超高密度磁気記録におけるナノメートルサイズ効果(パターンド
メディアとXMCD計測)」
群馬大学大学院工学研究科 保坂 純男
13:55-14:45 「周波数変調原子間力顕微鏡による分子スケール固液界面評価」
京都大学工学部 山田 啓文
14:45-15:05 休 憩
15:05-15:55 「超音波AFMおよびナノインデンテータを用いた試料の機械特性評価法」
1)日本電子株式会社, 2)オミクロンナノテクノロジージャパン株式会社
＊中本 圭一1)，富塚 仁2)
15:55-16:45 「プローブ顕微鏡を用いた熱電変換特性の評価」
静岡大学電子工学研究所 池田 浩也
17:30- 懇親会
学外を予定（会費：4,000円）
問い合わせ先：静岡大学電子工学研究所 下村 勝
TEL&FAX: 053-478-1334,
E-mail: rmshimo@ipc.shizuoka.ac.jp